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日東精工低電阻率自動(dòng)測量系統(tǒng) 現(xiàn)貨

日東精工低電阻率自動(dòng)測量系統(tǒng) 現(xiàn)貨
特征

專用的 4 點(diǎn)探頭可以高精度一鍵式測量各種材料的電阻率。

  • 更新時(shí)間:2024-09-18
  • 產(chǎn)品型號:MCP-S330型
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 訪  問  量:99
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日東精工低電阻率自動(dòng)測量系統(tǒng)  現(xiàn)貨 

日東精工低電阻率自動(dòng)測量系統(tǒng)  現(xiàn)貨 



適用于測量ITO薄膜、各種金屬薄膜等的膜厚分布以及傳送帶的電阻率分布。


特征

測量、計(jì)算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出可以自動(dòng)化。

(電路板尺寸最大可達(dá) 650 x 650 毫米。)

以三維圖形顯示[Ω]、[Ω/□]、[Ωcm]、[S/cm]。

測量位置設(shè)置可以通過三種方式一鍵完成:網(wǎng)格輸入和順序輸入。

它可用于廣泛的用途,從研究和開發(fā)到在線抽樣檢查。

有從低電阻率到高電阻率兩種類型。


不受樣品形狀影響,精確測量表面電阻率[Ω/?]和體積電阻率[Ω?cm]

特征

導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。

能夠繪制最大300mm見方的樣品并連續(xù)測量多個(gè)樣品。

可連接到 Loresta GX 以測量 10-4 至 10+7Ω 范圍

全自動(dòng)測量、計(jì)算、數(shù)據(jù)處理和3D圖形輸出


導(dǎo)電膜、金屬、ITO薄膜等的膜厚和成分的變化一目了然。

隨著顯示器件(液晶和有機(jī)EL)要求具有更快的響應(yīng)速度和更高的清晰度,電極基板的均勻性變得更加重要。

表面電阻率取決于材料。當(dāng)材料均勻時(shí),薄膜越厚,表面電阻率越低。

在薄膜領(lǐng)域,薄膜厚度變化通過表面電阻率繪圖來評估。

 

目的

Hiresta-UX 是一款測量電阻率的測量儀器,電阻率是材料的評估標(biāo)準(zhǔn)之一。


測量各種高阻材料的表面電阻率和體積電阻率對于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制和研發(fā)非常有用。

輕松準(zhǔn)確地測量材料的表面電阻率和體積電阻率,用于抗靜電材料研發(fā)、生產(chǎn)線質(zhì)量控制或材料。


該裝置采用符合JIS K6911的測量方法,可以使用各種探頭測量塑料、薄膜和油漆等多種材料。為了穩(wěn)定地測量

10 6

Ω以上的高電阻材料,最好使用雙環(huán)進(jìn)行測量。 我們的探頭采用雙環(huán)電極。




主要測量目標(biāo)

抗靜電材料、建筑材料、地板材料、各種紙張、包裝材料、涂料、纖維、混凝土、陶瓷、樹脂、薄膜等。


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