無(wú)損檢測(cè)是在不破壞物體的情況下檢查物體表面或內(nèi)表面是否存在缺陷、大小、形狀、分布等的檢測(cè)。

無(wú)損檢測(cè)包括射線探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、穿透深度探傷、渦流探傷等。在JIS術(shù)語(yǔ)中，無(wú)損檢測(cè)縮寫為NDT，代表無(wú)損檢測(cè)。

另一方面，破壞性試驗(yàn)是對(duì)物體施加壓力、溫度、振動(dòng)等直至其被破壞，并直接考察缺陷出現(xiàn)的允許限度的試驗(yàn)方法。無(wú)損檢測(cè)是一種間接檢測(cè)方法，與破壞性檢測(cè)相比，其缺點(diǎn)是無(wú)法可靠地確定缺陷發(fā)生的條件，但由于它可以在不損害物體形狀或功能的情況下檢測(cè)缺陷，因此被廣泛應(yīng)用。 、工廠、鐵路、飛機(jī)等，也可以在運(yùn)行過(guò)程中進(jìn)行測(cè)試，防止因缺陷引起的問(wèn)題。